超聲波測厚儀性?xún)r(jià)比好的雙探頭涂層測厚儀TT260A|代替時(shí)代TT260磁性非磁性物體都可以測量TT260A涂層測厚儀采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無(wú)損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度(如鉻、鋅、銅、鋁、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。
●磁性法(F型測頭)當測頭與覆蓋層接觸時(shí)，測頭和磁性金屬基體構成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過(guò)測量其變化可導出覆蓋層的厚度。
●渦流法(N型測頭)利用高頻交變電流在線(xiàn)圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng)，當測頭與覆蓋層接觸時(shí)，金屬基體上產(chǎn)生電渦流，并對測頭中的線(xiàn)圈產(chǎn)生反饋作用，通過(guò)測量反饋作用的大小可導出覆蓋層的厚度。
TT260A涂層測厚儀符合以下標準
GB/T 4956─1985磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法
GB/T 4957─1985非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量 渦流方法
JB/T 8393─1996磁性和渦流式覆層厚度測量?jì)x
JJG 889─95《磁阻法測厚儀》
JJG 818─93《電渦流式測厚儀》
TT260A涂層測厚儀特點(diǎn)：
◎采用了磁性和渦流兩種測厚方法，即可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度；
◎可使用10種測頭(F400、F1、F1/90°、F5、F10、N400、N1、N1/90°、CN02、N10)；
◎具有兩種測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）；
◎具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B)；
◎設有五個(gè)統計量：平均值（MEAN）、*大值（MAX）、*小值（MIN）、測試次數（NO．）、標準偏差（S．DEV）；
◎可采用單點(diǎn)校準和兩點(diǎn)校準兩種方法對儀器進(jìn)行校準，并可用基本校準法對測頭的系統誤差進(jìn)行修正；
◎具有存貯功能：可存貯495個(gè)測量值；
◎具有刪除功能：對測量中出現的單個(gè)可疑數據進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區內的所有數據，以便進(jìn)行新的測量；
◎可設置限界：對限界外的測量值能自動(dòng)報警；
◎具有電源欠壓指示功能；
◎操作過(guò)程有蜂鳴聲提示；
◎具有錯誤提示功能，通過(guò)屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯誤提示；
◎設有兩種關(guān)機方式：手動(dòng)關(guān)機方式和自動(dòng)關(guān)機方式；
探頭技術(shù)參數
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測頭型號
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F400
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F1
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F1/90
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F10
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N1
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CN02
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工作原理
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磁感應
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電渦流
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測量范圍（um）
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0-400
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0-1250
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0-10000
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0-1250(銅上鍍鉻0-40um)
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10-200
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低限分辨力(um)
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0.1
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0.1
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10
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0.1
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1
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示值誤差
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一點(diǎn)校準(um)
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±[3%H+1]
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±[3%H+10]
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±[3%H+1.5]
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±[3%H+1]
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兩點(diǎn)校準(um)
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±[(1-3)%H+0.7]
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±[(1～3)%H+1]
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±[(1～3)%H+10]
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±[(1～3)%H+1.5]
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-
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測量條件
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*小曲率半徑(mm)
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凸1
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凸1.5
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平直
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10
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3
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平直
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基體*小面積的直徑(mm)
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ф3
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ф7
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ф7
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ф40
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ф5
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ф7
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*小臨界厚度(mm)
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0.2
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0.5
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0.5
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2
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0.3
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無(wú)限制
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測頭選用參考表
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覆蓋層
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有機材料等非磁性覆蓋層(如:漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽(yáng)極化處理等)
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非磁性的有色金屬覆蓋層(如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等)
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基體
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覆蓋層厚度不超過(guò)100μm
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覆蓋層厚度超過(guò)100μm
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覆蓋層厚度不超過(guò)100μm
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覆蓋層厚度超過(guò)100μm
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如 鐵、鋼
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被測面積的直徑大于30mm
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F400型測頭
0～400μm
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F1型測頭
0～1250μm
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F400型測頭0～400μm
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F1型測頭
0～1250μm
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等磁性金屬
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F1型測頭
0～1250μm
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F10型測頭
0～10mm
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F1型測頭0～1250μm
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F10型測頭
0～10mm
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被測面積的直徑小于30mm
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F400型測頭
0～400μm
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F400型測頭0～400μm
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F400型測頭0～400μm
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F400型測頭
0～400μm
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F1型測頭
0～1250μm
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F1型測頭
0～1250μm
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如銅 、鋁 、
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被測面積的直徑大于5mm
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N1型測頭0～1250μm
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僅用于銅上鍍鉻N1型測頭0～40μm
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黃銅 、鋅 、錫
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等 有色金屬
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塑料、印刷線(xiàn)路非金屬基體
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被測面積的直徑大于7mm
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CN02型測頭10～200μm
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標準配置：
主機1臺F1或N1測頭1支,校準標準片1套（含試片5片，基體1塊）,電池2節,通訊電纜1根,
